COMPRION hat in der Kategorie „Herstellung & Tests” den „SESAMES Award 2017“ für das Design Validation Center mit Vector Field Probe erhalten. Hierbei handelt es sich um eine neue Testlösung, die es ermöglicht, das Design kontaktloser Schnittstellen NFC-basierter Produkte bereits in der Entwicklungsphase zu validieren. Der Preis unterstreicht COMPRION’s Expertise bei der Entwicklung innovativer Lösungen.
"Das Design Validation Center ist das Herz der neuen, modularen COMPRION Lösung, die speziell für die Entwicklung der kontaktlosen Schnittstellen von NFC-fähigen Geräten und kontaktlosen Chipkarten und RFID-Tags konzipiert wurde. „Da die NFC-Technologie bereits von so vielen verschiedenen Anwendungen, wie Türgriffen, kontaktlosen Karten, Lesegeräten, Wearables und vielen mehr verwendet wird, gibt es riesige Unterschiede bei Material und Geometrie. Dies beeinflusst das magnetische Feld und erfordert eine frühzeitige Optimierung der NFC-Schnittstelle. 3D-Visualisierungen der magnetischen Feldrichtung sowie 2D- und 3D-Darstellungen der Feldstärke, sogenannte „Heatmaps“, unterstützen die Fehleranalyse und helfen Herstellern und Integratoren dabei, potentielle Probleme bereits vor der Markteinführung auszumerzen", erläutert Marketingdirektor Hajo Sandschneider.
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